Semiconductor Testing
Accélérer et optimiser le processus de conception des composants semi-conducteurs
Les composants électroniques de puissance tels que les MOSFET, les diodes, les transistors et les IGBT sont utilisés partout où l'énergie électrique est générée, convertie et contrôlée. Comme les demandes d'énergie dans les applications industrielles et de consommation sont en hausse, le défi pour les fabricants de modules de puissance est d'augmenter le niveau de puissance maximum et la capacité de charge de courant, tout en maintenant une qualité et une fiabilité élevées.
Les produits de semiconductor testing de Simcenter accélèrent et optimisent le processus de conception de ces composants en utilisant une technologie de mesure innovante et dédiée pour l'analyse des transitoires thermiques, l'analyse des LED, le test TIM, le cyclage de puissance et le test des boîtiers en laboratoire ou en usine.
Pourquoi choisir les produits Simcenter pour le Semiconductor Testing ?
Rapide, facile et reproductible
Toutes les solutions Siemens pour le test des semi-conducteurs sont rapides à mettre en œuvre et à rendre opérationnelles, très faciles à utiliser, et capables d'offrir un système de mesure répétable pour des résultats fiables.
Conformité aux normes JEDEC
Les produits de Siemens pour le test des semi-conducteurs permettent aux fabricants de composants de respecter les normes établies par le JEDEC afin d'améliorer la qualité et la fiabilité des produits et d'accroître la confiance des consommateurs.
Essais non destructifs
Vous pouvez effectuer autant de tests que vous le souhaitez sur le même composant car le contrôle non destructif pour la caractérisation thermique vous donne la fonction structurelle du composant, ce qui est optimal pour la caractérisation du boîtier.
Intégration à la simulation thermique électronique
Les produits Simcenter pour le test des semi-conducteurs permettent de générer des modèles thermiques très précis à utiliser avec Simcenter Flotherm XT et FLOEFD pour améliorer la précision des simulations thermiques.
White Paper
Ce livre blanc décrit comment Infineon Technologies a fait appel à un testeur matériel Simcenter DYNTIM pour comprendre et corriger les pertes parasites dans les matériaux d'interface thermique (TIM). Infineon Technologies a constaté que Simcenter DYNTIM était exponentiellement plus précis et pouvait être appliqué à une plus grande gamme de matériaux que les autres méthodes. La précision et la polyvalence offertes par Simcenter DYNTIM en font l'un des équipements de mesure de la conductivité thermique les plus importants disponibles pour les TIM.
T3STER
Simcenter T3STER est un testeur thermique transitoire non destructif avancé pour la caractérisation thermique des dispositifs semi-conducteurs encapsulés (diodes, BJTs, MOSFETs de puissance, IGBTs, LEDs de puissance) et des dispositifs multi-die. Il mesure la véritable réponse thermique transitoire plus efficacement que les méthodes en régime permanent. Les mesures sont à ±0,01° C avec une résolution temporelle allant jusqu'à 1 microseconde. Les fonctions de structure traitent ensuite la réponse dans un graphique qui montre la résistance thermique et la capacité des caractéristiques du boîtier le long du chemin du flux thermique. Simcenter T3STER est un outil idéal pour la détection des défaillances avant et après les contraintes. Les mesures peuvent être exportées pour la calibration du modèle thermique, ce qui renforce la précision de l'effort de conception thermique.
POWERTESTER
Simcenter POWERTESTER offre la possibilité unique dans l'industrie de combiner un cycle de puissance active avec une caractérisation thermique transitoire et une investigation de la structure thermique. L'évaluation non destructive de la structure et de la fonction est effectuée alors que le dispositif reste monté, ce qui permet une évaluation électrique et structurelle complète du dispositif tout au long du programme d'essai, de manière entièrement automatisée.
Alimentés par des milliers, voire des millions de cycles, les modules permettent de diagnostiquer en temps réel les défaillances en cours, de réduire la durée des essais et des diagnostics, et d'éliminer la nécessité d'une analyse post-mortem ou destructive des défaillances. Un large éventail de stratégies d'alimentation simule des conditions de fonctionnement réalistes sur le terrain. Les configurations fournissent jusqu'à 3600A et mesurent jusqu'à 16 dispositifs simultanément.
TERALED
Les tests à température contrôlée de Simcenter TERALED forment une station de test électrique, thermique et radiométrique/photométrique combinés pour les LED et les modules LED, créant des modèles compacts multi-domaines pouvant être utilisés dans le logiciel de conception thermique Simcenter.
Ces solutions de test de LED sont conformes à la norme JEDEC JESD51-52 et suivent les rapports techniques CIE 127:2007 et 225:2017. La résistance thermique réelle et les paramètres de sortie de lumière sont mesurés en fonction de la température de jonction réelle des LED sur une large gamme de courant d'acheminement. Le processus est entièrement automatisé. Des spectroradiomètres tiers aident à capturer les spectres d'émission, fournissant ainsi des données supplémentaires pour la modélisation précise des propriétés de sortie de lumière des ensembles de LED dans la conception de l'éclairage.
DYNTIM
Simcenter DYNTIM offre une mise en place intelligente de la norme ASTM D5470, basée sur des mesures transitoires plutôt qu'en régime permanent, avec un contrôle très précis de l'épaisseur de la ligne de liaison par pas de 1 µm pour maximiser la précision des mesures. Le contrôle automatisé de l'épaisseur ou de la pression de l'échantillon le rend idéal pour les échantillons souples et les échantillons métalliques spécialement préparés, en complément des systèmes de test de conductivité thermique existants. Disponible en tant que système autonome ou en tant que fixation pour Simcenter T3STER, il automatise entièrement le processus de mesure, ce qui permet d'économiser du temps et des efforts, tout en offrant une répétabilité de ±5% dans des conditions de mesure proches de l'application réelle. Simple et solide, le système est simple d'utilisation.
White Paper
Dans cet article, deux exemples sont discutés sur la façon dont les fonctions de structure peuvent être utilisées pour analyser ce qui se passe thermiquement à l'intérieur d'un boîtier de semi-conducteur, ou de tout autre système électronique complexe.
Comment les fonctions de structure améliorent la caractérisation des boîtiers
Les fonctions de structure sont essentielles pour étudier l'intégrité de vos boîtiers lors des essais de semi-conducteurs. Les essais de transitoires thermiques réalisés par Simcenter T3STER et les fonctions de structure sont devenus des outils d'analyse largement acceptés. Regardez cette vidéo pour découvrir ce que sont les fonctions de structure, les principes qui les composent et comment elles peuvent soutenir la caractérisation des boîtiers et l'analyse de la fiabilité.
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